Unerreicht niedrige Einfügedämfungswerte durch modernste Technologie
DIAMOND SA entwickelt ein Verfahren zur Herstellung von Steckverbindern mit extrem niedriger Einfügedämpfung. Dieser Prozess nutzt unsere hochmoderne Kern-Zentrierungstechnologie, um die Verluste zu reduzieren, die durch seitliche und winklige Fehlausrichtung der Faser verursacht werden.
Nachfolgend finden Sie einige erste Testdaten, die wir mit unserer fortschrittlichen Technologie erhalten haben.
Basierend auf unseren Erfahrungen mit SMF-28 Fasern bei 1550nm kann ein durchschnittlicher Einfügeverlust (IL) von 0,045 dB bei zufälligen Verbindungen erwartet werden, mit einem Maximalwert von 0,06 dB bei 95% der Verbindungen. Bei 1310 nm sind die IL-Werte aufgrund des kleineren Modenfelddurchmessers höher. Hier kann ein durchschnittlicher IL-Wert von 0,055 dB bei zufälliger Paarung erwartet werden, mit einem Maximalwert von 0,10 dB bei 95% der Verbindungen.
Wir haben auch bereits erste Erfahrungen mit der 1550 nm PM-Faser von Fujikura gesammelt. Mit dieser Faser war es möglich, APC-Stecker mit einer durchschnittlichen IL von 0,050 dB bei zufälliger Paarung und einem Maximalwert von 0,09 dB bei 95 % der Verbindungen herzustellen. PC-Stecker auf denselben Fasern hatten einen etwas höheren IL-Wert (durchschnittlich 0,01 dB höher), was jedoch auf Messprobleme zurückzuführen sein könnte.
Fasern mit kleinen Wellenlängen sind hinsichtlich des IL kritischer, da die kleineren Modenfelddurchmesser eine noch genauere Positionierung des Faserkerns in der Ferrule erfordern. Durch Interpolation der Ergebnisse, die wir bei höheren Wellenlängen erhalten haben, schätzen wir, dass die folgenden Verteilungen erreicht werden könnten:
- 630 nm: Mittelwert von 0,15 dB bei zufälliger Verbindung, mit einem Maximalwert von 0,25 dB bei 95 % der Verbindungen;
- 780 nm: Mittelwert von 0,11 dB bei zufälliger Verbindung mit einem Maximalwert von 0,18 dB bei 95 % der Verbindungen.
Die Werte für die Einfügedämpfung bei Verwendung von ULL-Steckverbindern liegen in der Grössenordnung der heute technisch möglichen Messunsicherheit. Daher wird die Leistung dieser Produkte, im Gegensatz zum üblichen IL-Wert eines einzelnen Steckverbinders im Vergleich zur Referenz, explizit durch statistische Zusammenfassungen - Histogramme - der gemessenen IL-Werte von zufällig zusammengesteckten Steckverbindern für jedes Produktionslos dargestellt. Aus diesem Grund sollte die Messung der Wiederholbarkeit und der absoluten IL von Steckverbindern nur als qualitativer Indikator betrachtet werden, der die angestrebte Gesamtleistung von Ultra Low Loss (ULL) Steckverbindern bestätigt.
Bitte haben Sie Verständnis dafür, dass es sich hierbei nur um vorläufige Daten handelt, die von den ersten Prototypen stammen. Auf der Grundlage dieser Daten können wir Ihnen anbieten, einige Konfigurationen auszuwählen, an deren Entwicklung Sie interessiert sind (Faser, Wellenlänge, Polierwinkel, Steckertyp), und wir können die Herstellung einiger Prototypen für Ihre Evaluierung besprechen.
